a Cu ≤ 0.50 %; Ni ≤ 0.50 %; Cr ≤ 0.50 % અને Mo ≤ 0.15 %.

b કાર્બન માટે નિર્દિષ્ટ મહત્તમ સાંદ્રતા કરતાં નીચે 0.01% ના દરેક ઘટાડા માટે, Mn માટે નિર્દિષ્ટ મહત્તમ સાંદ્રતા કરતાં 0.05 % નો વધારો માન્ય છે, ગ્રેડ ≥ L245 અથવા B માટે મહત્તમ 1.65 % સુધી, પરંતુ ≤ L360 અથવા X52; ગ્રેડ > L360 અથવા X52 માટે મહત્તમ 1.75 % સુધી, પરંતુ < L485 અથવા X70; અને ગ્રેડ L485 અથવા X70 માટે મહત્તમ 2.00 % સુધી.

c અન્યથા સંમત ન થાય ત્યાં સુધી, Nb + V ≤ 0.06 %.

d Nb + V + Ti ≤ 0.15 %.

e સિવાય કે અન્યથા સંમત થાય.

f જ્યાં સુધી અન્યથા સંમત ન હોય, Nb + V + Ti ≤ 0.15 %.

b ના ઇરાદાપૂર્વક ઉમેરવાની મંજૂરી નથી અને શેષ B ≤ 0.001 %.

પાઇપ ગ્રેડ

Rt0.5

Rm

Af

Rm

c ઉલ્લેખિત લઘુત્તમ વિસ્તરણ,Af, ટકામાં વ્યક્ત અને નજીકના ટકા સુધી ગોળાકાર, નીચેના સમીકરણનો ઉપયોગ કરીને નિર્ધારિત કરવામાં આવશે:

જ્યાં

C SI એકમોનો ઉપયોગ કરીને ગણતરીઓ માટે 1940 અને USC એકમોનો ઉપયોગ કરીને ગણતરીઓ માટે 625,000 છે;

Axc એ લાગુ ટેન્સાઈલ ટેસ્ટ પીસ ક્રોસ-વિભાગીય વિસ્તાર છે, જે નીચે પ્રમાણે ચોરસ મિલીમીટર (ચોરસ ઇંચ) માં વ્યક્ત થાય છે:

1) પરિપત્ર ક્રોસ-સેક્શન પરીક્ષણ ટુકડાઓ માટે, 130 mm2 (0.20 in.2) 12.7 mm (0.500 in.) અને 8.9 mm (0.350 in.) વ્યાસના પરીક્ષણ ટુકડાઓ માટે; 6.4 mm (0.250 in.) વ્યાસના પરીક્ષણ ટુકડાઓ માટે 65 mm2 (0.10 in.2);

2) પૂર્ણ-વિભાગના પરીક્ષણ ટુકડાઓ માટે, a) 485 mm2 (0.75 in.2) અને b) પરીક્ષણ ભાગનો ક્રોસ-વિભાગીય વિસ્તાર, ઉલ્લેખિત બહારના વ્યાસ અને પાઇપની સ્પષ્ટ દિવાલની જાડાઈનો ઉપયોગ કરીને મેળવવામાં આવે છે, નજીકના 10 mm2 (0.01 in.2) સુધી ગોળાકાર;

3) સ્ટ્રીપ ટેસ્ટ ટુકડાઓ માટે, a) 485 mm2 (0.75 in.2) અને b) ટેસ્ટ પીસનો ક્રોસ-સેક્શનલ વિસ્તાર, ટેસ્ટ પીસની સ્પષ્ટ પહોળાઈ અને પાઇપની સ્પષ્ટ દિવાલની જાડાઈનો ઉપયોગ કરીને મેળવવામાં આવે છે. , નજીકના 10 mm2 (0.01 in.2) સુધી ગોળાકાર;

U મેગાપાસ્કલ્સ (ચોરસ ઇંચ દીઠ પાઉન્ડ) માં દર્શાવવામાં આવેલ લઘુત્તમ તાણ શક્તિ છે.