a Cu ≤ 0.50 %; Ni ≤ 0.50 %; Cr ≤ 0.50 % සහ Mo ≤ 0.15 %.

b කාබන් සඳහා නියමිත උපරිම සාන්ද්‍රණයට වඩා අඩු 0.01 % ක එක් එක් අඩු කිරීම් සඳහා, Mn සඳහා නියම කර ඇති උපරිම සාන්ද්‍රණයට වඩා 0.05 % ක වැඩිවීමක් අවසර ඇත, ≥ L245 හෝ B ශ්‍රේණි සඳහා උපරිම 1.65 % දක්වා, නමුත් ≤ L360 හෝ X52; ශ්‍රේණි > L360 හෝ X52 සඳහා උපරිම 1.75 % දක්වා, නමුත් <L485 හෝ X70; සහ L485 හෝ X70 ශ්‍රේණිය සඳහා උපරිම 2.00 % දක්වා.

c වෙනත් ආකාරයකින් එකඟ නොවන්නේ නම්, Nb + V ≤ 0.06 %.

d Nb + V + Ti ≤ 0.15 %.

ඊ වෙනත් ආකාරයකින් එකඟ නොවන්නේ නම්.

f වෙනත් ආකාරයකින් එකඟ නොවන්නේ නම්, Nb + V + Ti ≤ 0.15 %.

g හිතාමතාම B එකතු කිරීමට අවසර නැත සහ ඉතිරි B ≤ 0.001 %.

පයිප්ප ශ්රේණිය

කොහෙද

C SI ඒකක භාවිතා කරන ගණනය කිරීම් සඳහා 1940 සහ USC ඒකක භාවිතා කරන ගණනය කිරීම් සඳහා 625,000;

Axc යනු පහත සඳහන් පරිදි වර්ග මිලිමීටර (වර්ග අඟල්) වලින් ප්‍රකාශිත අදාළ ආතන්ය පරීක්ෂණ කොටස හරස්කඩ ප්‍රදේශයයි:

1) වෘත්තාකාර හරස්කඩ පරීක්ෂණ කෑලි සඳහා, 130 mm2 (0.20 in.2) සඳහා 12.7 mm (0.500 in.) සහ 8.9 mm (0.350 in.) විෂ්කම්භය පරීක්ෂණ කෑලි; 65 mm2 (0.10 in.2) 6.4 mm (0.250 in.) විෂ්කම්භය පරීක්ෂණ කෑලි සඳහා;

2) සම්පූර්ණ-අංශ පරීක්ෂණ කෑලි සඳහා, a) 485 mm2 (අඟල් 0.75) සහ b) පරීක්ෂණ කැබැල්ලේ හරස්කඩ ප්‍රදේශය, නිශ්චිත බාහිර විෂ්කම්භය සහ පයිප්පයේ නිශ්චිත බිත්ති ඝණත්වය භාවිතයෙන් ව්‍යුත්පන්න කර ඇත, ආසන්නතම 10 mm2 (0.01 in.2) දක්වා වටකුරු;

3) තීරු පරීක්ෂණ කෑලි සඳහා, a) 485 mm2 (0.75 in.2) සහ b) පරීක්ෂණ කැබැල්ලේ හරස්කඩ ප්‍රදේශය, පරීක්ෂණ කැබැල්ලේ නිශ්චිත පළල සහ පයිප්පයේ නිශ්චිත බිත්ති ඝණත්වය භාවිතයෙන් ව්‍යුත්පන්න කර ඇත. , ආසන්නතම 10 mm2 (අඟල් 0.01) දක්වා වටකුරු;

U මෙගාපැස්කල් (වර්ග අඟලකට පවුම්) වලින් ප්‍රකාශිත නිශ්චිත අවම ආතන්ය ශක්තිය වේ.