a Cu ≤ 0,50 %; Ni ≤ 0,50 %; Cr ≤ 0,50 % un Mo ≤ 0,15 %.

b Katram samazinājumam par 0,01 % zem noteiktās maksimālās oglekļa koncentrācijas ir pieļaujams pieaugums par 0,05 % virs noteiktās maksimālās Mn koncentrācijas, maksimāli līdz 1,65 % kategorijām ≥ L245 vai B, bet ≤ L360 vai X52; maksimāli līdz 1,75 % pakāpēm > L360 vai X52, bet < L485 vai X70; un ne vairāk kā 2,00 % L485 vai X70 klasei.

c Ja nav vienošanās citādi, Nb + V ≤ 0,06 %.

d Nb + V + Ti ≤ 0,15 %.

e Ja nav vienošanās citādi.

f Ja nav vienošanās citādi, Nb + V + Ti ≤ 0,15 %.

g Nav atļauta apzināta B pievienošana, un atlikums B ir ≤ 0,001 %.

Cauruļu pakāpe

Rt0.5

Rm

Af

Rm

c norādītais minimālais pagarinājums,Af, izteikts procentos un noapaļots līdz tuvākajam procentam, nosaka, izmantojot šādu vienādojumu:

kur

C ir 1940 aprēķiniem, izmantojot SI vienības, un 625 000 aprēķiniem, izmantojot USC vienības;

Axc ir piemērojamais stiepes testa parauga šķērsgriezuma laukums, kas izteikts kvadrātmilimetros (kvadrātcollās):

1) apļveida šķērsgriezuma testa paraugiem 130 mm2 (0,20 collas) 12,7 mm (0,500 collas) un 8,9 mm (0,350 collas) diametra testa paraugiem; 65 mm2 (0,10 collas) 6,4 mm (0,250 collas) diametra testa paraugiem;

2) pilnas sekcijas testa paraugiem — mazākais no a) 485 mm2 (0,75 collas) un b) parauga šķērsgriezuma laukums, kas iegūts, izmantojot norādīto caurules ārējo diametru un norādīto sienas biezumu; noapaļots līdz tuvākajam 10 mm2 (0,01 collas);

3) sloksnes testa paraugiem — mazākais no a) 485 mm2 (0,75 collas) un b) parauga šķērsgriezuma laukums, kas iegūts, izmantojot norādīto parauga platumu un norādīto caurules sienas biezumu. , noapaļots līdz tuvākajam 10 mm2 (0,01 collas);

U ir norādītā minimālā stiepes izturība, kas izteikta megapaskālos (mārciņas uz kvadrātcollu).